聯絡我們
新聞
投資人關係
人才召募
智慧財產管理 ESG
客戶服務
技術專區
專業服務
關於欣銓
首页 非破壞性分析 化性分析 材料分析 可靠度分析 環境檢測

品質工程分析服務

非破壞性分析化性分析材料分析可靠度分析環境檢測
Back
專業服務 品質服務 品質工程分析服務
品質工程分析服務
非破壞性分析
  • 光學工具顯微鏡
  • 實體金相顯微鏡
  • I-V 曲線量測
  • 共軛焦及白光干涉顯微鏡
  • X-RAY檢測系統
化性分析
  • Wafer Delayer去鋁墊實驗
    (Wafer & Chip mode 彈坑實驗)
  • Wafer 去除 Polyimide層
  • IC封裝體去封膠
  • 特殊封裝體去封膠
  • 取晶粒
材料分析
  • 掃描式電子顯微鏡(SEM)
  • 元素分析(EDS)
  • 傅立葉轉換紅外線顯微鏡
    (FTIR-Microscope)
  • 離子切割拋磨機
    (Ion Milling System)
 
  • 雙束聚焦離子束顯微鏡
    (Dual Beam FIB)
  • 手持式X射線螢光元素分析儀
    (XRF)
可靠度分析
  • 萬能材料試驗機
  • 耐磨試驗機
環境檢測
  • 高壓氣體粒子計數器
  • 離子層析儀
  • 液體粒子計數器